旺矽科技先進半導體測試部門實現高達110 GHz的可追溯射頻校準突破

德國布倫瑞克2024年1月25日 /美通社/ -- 作為晶圓級測試解決方案的先驅，旺矽科技股份有限公司 (MPI Corporation) 的先進半導體測試 (AST) 部門今天宣布在射頻校準技術方面取得一項重大成果。該部門與德國聯邦物理技術研究院 (PTB) 合作，在表征高達110 GHz的商用校正片方面成功實現了完全可追溯性，樹立了新的行業標桿。

這項在先進半導體測試部門射頻技術總監Andrej Rumiantsev博士帶領下取得的成果，代表著MPI整個射頻產品線的重大飛躍。完全可追溯的特征為更準確、可靠和被普遍接受的高頻測量鋪路，這對于5G等尖端技術至關重要。

Rumiantsev博士表示："在如此高的頻率下實現射頻校準的完全可追溯性證明了我們對精度和質量的重視。這項突破是我們與PTB長期合作的成果。這不僅是旺矽先進半導體測試部門的進步，也是整個微波量測學界、半導體和電信行業的重大進步。"

德國PTB晶圓級散射參數部門負責人Uwe Arz博士表示："制定晶圓級射頻系統校準的國家標準是PTB多年來一直努力實現的目標。我們很自豪地宣布將溯源鏈轉讓給MPI的商用校正片，這在業內實屬首次。"

旺矽先進半導體測試部門的最新成果突顯了其是半導體測試行業的領導者，有望在高頻測試領域開辟新路徑，并鞏固其市場領先地位。

如需了解更多信息，請參閱：

• 全球首批晶圓級測量校準證書 - PTB.de
• 商用校正片上高達110 GHz的可追溯集總元件校準 | IEEE Conference Publication | IEEE Xplore